國產(chǎn)納米粒度儀采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。
 

　　顆粒測試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律，再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對比較簡單，但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計(jì)算出的測試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。
 

　　約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設(shè)，通過光強(qiáng)直接準(zhǔn)確地計(jì)算出顆粒群的粒度分布。這種計(jì)算前提是合理的探測器設(shè)計(jì)和粒度分，給設(shè)備本身提出很高的要求。采用優(yōu)的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分，從而能夠準(zhǔn)確地測量顆粒群的粒度分布。
 

　　國產(chǎn)納米粒度儀測定法得出的均勻粒子體積標(biāo)準(zhǔn)可以作為判定研磨陶瓷粉體粒度的值，在均勻粒子標(biāo)準(zhǔn)相同的狀況下。
 

　　陶瓷材料的制備通常要經(jīng)過3個(gè)技能進(jìn)程：材料制備、坯體成形和燒成技能，粒度及分布狀況與材料的加工時(shí)間、坯體的致密度大小、燒成溫度的凹凸一級有關(guān)，干壓成形的粉料和注漿成型漿料都有顆粒存在。材料的顆粒粒度配比對產(chǎn)品的強(qiáng)度和技能功用有較大的影響，格外是在其燒結(jié)時(shí)發(fā)作的改動，國產(chǎn)納米粒度儀根據(jù)該值可判定其技能特征和制品功用，陶瓷色釉中也存在粉狀顆粒，所謂陶瓷粉體是許多固體粒子的集結(jié)系統(tǒng)。
 

　　在制品出產(chǎn)，其功用和質(zhì)量遭到陶瓷工作客戶的一起好評，粘土、石英和長石英材料都需要加工成粉體顆粒。因而有必要探求新的檢驗(yàn)方法來得到所需的表征效果，其間國產(chǎn)納米粒度儀，致使表面能靈敏增大，研磨燒塊的粒度組成(即粒子的粒度分布)也底子相同，在無機(jī)材料產(chǎn)品的出產(chǎn)中，因而在各類粉體的加工與應(yīng)用領(lǐng)域，通常控制材料的顆粒配比應(yīng)從監(jiān)控材料的顆粒度著手。它標(biāo)明物質(zhì)的一種存在狀況在建筑衛(wèi)生陶瓷出產(chǎn)進(jìn)程中，納米粉體怎樣表征，在出產(chǎn)陶瓷材料時(shí)，格外當(dāng)粉體的粒徑抵達(dá)納米級時(shí)。